測量(達(dá) 6.0D 的)密度和點(diǎn)域。可用于線性化圖像集成機(jī)、調(diào)節(jié)曝光、執(zhí)行處理器質(zhì)量控制、驗(yàn)證復(fù)制或接觸的膠片。UV 模型可測量膠片的感光過度,并估算重氮膠片的密度。
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